HAST非飽和試驗箱 是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-350 | 瀏覽量:13 |
| 更新時間:2025-12-24 | 是否能訂做:是 |
HAST非飽和試驗箱的生產廠家,東莞市皓天試驗設備有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品
本設備廣泛應用于所有對可靠性有很高要求的行業,是保障產品品質的“守門員":
半導體與集成電路:IC芯片、MCU、功率器件(IGBT)、存儲器、傳感器等的封裝密封性測試、抗濕氣能力評估、HCI(熱載流子注入)效應測試等。
汽車電子:針對車規級芯片(AEC-Q100)和ECU、BMS、傳感器模塊,測試其耐受發動機艙高溫高濕環境及長期服役的可靠性。
航空航天:機載計算機、導航通信模塊等關鍵電子設備,在嚴苛高低溫循環及高壓環境下的耐候性與壽命驗證。
PCB與元件:印刷電路板(PCB)、連接器、電感、電容、磁性材料在濕熱環境下的性能衰減評估。
新材料研究:高分子材料、復合封裝材料(如底填膠)、光伏組件(EVA)、特種涂鍍層等在高壓濕熱條件下的老化行為研究
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準,確保您的測試數據在地球范圍內獲得認可:
IEC:IEC 60068-2-66 (試驗Cx), IEC 60749
JEDEC:JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)
國標:GB/T 2423.40
汽車電子:AEC-Q100/Q101
行業評價方法:支持如《復雜組件封裝關鍵結構壽命評價方法》(T/CIE 143-2022)等標準中提及的加速壽命試驗要求。
HAST非飽和試驗箱
HAST試驗的核心原理是利用非飽和高壓蒸汽(溫度高于100℃,相對濕度低于100%)的高能量狀態,極大加速水汽向產品內部的滲透和擴散過程。
環境建立:首先,設備將試驗箱內溫度升至遠高于100℃(如130℃),同時通過蒸汽發生與壓力控制,在箱內建立對應的壓力(如0.2MPa以上)和預設的非飽和濕度環境。
加速應力:在此環境下,水分子具有T很高的動能和滲透力,能迅速穿透高分子材料、封裝縫隙或微小缺陷,抵達芯片、線路等核心部位。
誘發失效:水汽與金屬離子結合,在電場(若施加偏壓)和高溫的共同作用下,誘發電化學腐蝕、枝晶生長、絕緣電阻下降等失效模式,從而在幾十到幾百小時內模擬出戶外數年才能發生的故障。
我們承諾提供全面的售前、售中與售后服務:
售前咨詢:根據您的具體測試樣品和標準,提供定制化的設備配置與測試方案。
交付與培訓:專業工程師上門安裝調試,并對操作人員進行系統培訓,直至其能獨立操作。
質量保證:設備整機質保1年,核心部件提供更長周期支持。
技術支持:提供7x24小時電話支持,快速響應維修需求,并可根據需要提供付費的預防性維護計劃和期間核查方案。






