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HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:

HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱是半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的測(cè)試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評(píng)估提供有力支撐

型號(hào):HT-HAST-350 瀏覽量:14
更新時(shí)間:2025-12-24 是否能訂做:是

HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱的生產(chǎn)廠家,東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品

非飽和高壓加速試驗(yàn)箱(HAST)是進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備,通過模擬高溫、高壓及非飽和濕度環(huán)境,快速評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的測(cè)試工具主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評(píng)估提供有力支撐它能將傳統(tǒng)方法長達(dá)數(shù)千小時(shí)的濕熱老化測(cè)試周期縮短至數(shù)百小時(shí),顯著提升研發(fā)與質(zhì)檢效率


HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱


箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

設(shè)備的堅(jiān)固性、密封性和耐腐蝕性是長期穩(wěn)定運(yùn)行的基礎(chǔ)。

內(nèi)箱結(jié)構(gòu):采用圓筒形壓力容器設(shè)計(jì),符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn)。此結(jié)構(gòu)能均勻承受高壓,并能有效防止頂板冷凝水直接滴落到樣品上,保證試驗(yàn)的公正性。內(nèi)膽材質(zhì)通常選用SUS304或SUS316L不銹鋼板,后者耐腐蝕性更優(yōu)。所有焊縫均采用高強(qiáng)度氬弧焊并做精密拋光處理,、易清潔、耐長期高溫高濕腐蝕。

外箱材質(zhì):采用優(yōu)質(zhì)防腐電解鋼板,表面經(jīng)磷酸皮膜鹽霧處理后進(jìn)行靜電粉末噴涂,外觀美觀且抗刮擦、耐腐蝕。

保溫層:采用超細(xì)玻璃棉或高密度聚氨酯發(fā)泡材料,確保優(yōu)異的隔熱性能,節(jié)能降耗,表面溫度符合安全標(biāo)準(zhǔn)。

密封系統(tǒng):采用一體成型硅膠門墊圈,具有優(yōu)異的氣密性和彈性。獨(dú)特的設(shè)計(jì)使得箱內(nèi)壓力越大,密封墊與門體的結(jié)合越緊密,壽命遠(yuǎn)超傳統(tǒng)擠壓式密封。

工作原理簡(jiǎn)述

HAST試驗(yàn)的核心原理是利用非飽和高壓蒸汽(溫度高于100℃,相對(duì)濕度低于100%)的高能量狀態(tài),極大加速水汽向產(chǎn)品內(nèi)部的滲透和擴(kuò)散過程。

環(huán)境建立:首先,設(shè)備將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升至遠(yuǎn)高于100℃(如130℃),同時(shí)通過蒸汽發(fā)生與壓力控制,在箱內(nèi)建立對(duì)應(yīng)的壓力(如0.2MPa以上)和預(yù)設(shè)的非飽和濕度環(huán)境。

加速應(yīng)力:在此環(huán)境下,水分子具有T很高的動(dòng)能和滲透力,能迅速穿透高分子材料、封裝縫隙或微小缺陷,抵達(dá)芯片、線路等核心部位。

誘發(fā)失效:水汽與金屬離子結(jié)合,在電場(chǎng)(若施加偏壓)和高溫的共同作用下,誘發(fā)電化學(xué)腐蝕、枝晶生長、絕緣電阻下降等失效模式,從而在幾十到幾百小時(shí)內(nèi)模擬出戶外數(shù)年才能發(fā)生的故障。



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